УДК 621.38

   Осадчук О. В. Дослідження температурної нестабільності в активних НВЧ фільтрах та методи її зменшення / О. В. Осадчук, Я. О. Осадчук, С. В. Ліхашорський //Вісник Вінницького політехнічного університету.-2021.-№3.-c.127-133. - Библиогр.: 9 назв.Досліджено методи зменшення температурної нестабільності в активних НВЧ фільтрах. Проаналізовано вплив температури на параметри активного НВЧ фільтра. Представлено також результати експериментальних досліджень температурних характеристик НВЧ фільтрів.
Мікроелектроніка
621.38

УДК 621.38

   Курушин А.А. Нагрев тела под действием СВЧ мощности с учетом метаболических процессов / Алексейчик Л.В., Курушин А.А. //Вестник ДонНУ. Серия Г: Технические науки.-2021.-№3.-c.18-27. - Библиогр.: 7 назв.Статья посвящена моделированию эффекта поглощения мощности в биологическом объекте (БО).
Мікроелектроніка
621.38

УДК 621.38

   Дурнаков, А.А. Физические основы микро- и наноэлектроники: учебное пособие: ЭБ / А.А. Дурнаков.-Екатеринбург: УФУ,2020.-248 c.
Цена: б.ц.

Мікроелектроніка
621.38(07)

УДК 621.38

   Давыдов А.Г. Моделирование зонтичной антенны с помощью FEKO / Давыдов А.Г., Курушин А.А. //Вестник Донецкого национального университета.-2020.-№3.-c.21-32. - Библиогр: 4 назв.Выполнены расчет зонтичной антенны с оттяжками, расположенной на земляной поверхности, и предназначенной для создания загоризонтной РЛС.
Мікроелектроніка
621.38

УДК 621.3

   Єнікєєв, О.Ф. Схемотехніка та мікроелектроніка: посібник / О.Ф. Єнікєєв, О.В. Разживін, О.В. Суботін.-Краматорськ: ДДМА,2020.-166 c.
Цена: 70 грн.

Мікроелектроніка
621.3(07)

УДК 621.38

    Дослідження впливу температури на фізичні параметри напівпровідника м-метоксо(купрум(ІІ), бісмут(ІІІ) аценилацетонату / О.В. Осадчук, В.В. Мартинюк, М.В. Євсєєва, О.О. Селецька //Вісник Вінницького політехнічного інституту.-2019.-№4.-c.80-86. - Библиогр.: 9 назв.Метою дослідження є дослідження впливу температури на фізичні параметри синтезованого напівпровідникового матеріалу.
Мікроелектроніка
621.38

УДК 621.38

   Иванов И.М. Борьба с беспилотниками с помощью концентрации энергии электромагнитного поля / И.М. Иванов, А.А. Курушин //Вестник Донецкого национального университета.-2019.-№3.-c.14-19. - Библиогр: 6 назв.Выполнены расчет и экспериментальное исследование устройства концентрации электромагнитного поля в пространстве, которое можно использовать для нарушения работоспособности дистанционно пилотируемых летательных аппаратов.
Мікроелектроніка
621.38

УДК 621.38

   Тонкошкур, О.С. Контроль якості та надійності мікроелектронних виробів. Практикум: навчальний посібник / О.С. Тонкошкур, В.У. Ігнеткін.-Дніпродзержинськ: ДДТУ,2014.-128 c.
Цена: 30 грн.

Мікроелектроніка
621.38(07)+621.753(07)

УДК 621.38

    CHIP NEWS Украина. Инженерная микроэлектроника. № 2.-К,2014.-104 c.
Цена: б.ц.

Мікроелектроніка
621.38

УДК 681.527

   Lee, K.B. Principles of Microelectromechanical Systems=Принципы работы микроэлектромеханических систем: ЭБ / K.B. Lee: IEEE Press; Wiley,2011
Цена: б/ц

Мікроелектроніка
681.527

УДК 621.382

   Денисенко В.В. Компактные модели МОП-транзисторов для SPICE в микро- и наноэлектронике: ЭБ.-М: ФИЗМАТЛИТ,2010.-408 c.
Цена: б.ц.

Мікроелектроніка
621.382

УДК 621.38

    CHIP NEWS Украина. Инженерная микроэлектроника. № 3.-К,2010.-97 c.
Цена: б.ц.

Мікроелектроніка
621.38

УДК 621.38

    CHIP NEWS Украина. Инженерная микроэлектроника. № 6.-К,2010.-106 c.
Цена: б.ц.

Мікроелектроніка
621.38

УДК 621.31

   Марголин В. И. Физические основы микроэлектроники: Учебник: ЭБ / В.И. Марголин, В.А. Жабрев, В.А. Тупик.-М: Академия,2008.-400 c.
Цена: б.ц.

Мікроелектроніка
621.31(07)

УДК 621.38

   Киреев В.Ю., Столяров А.А. Технологии микроэлектроники. Химическое осаждение из газовой фазы: ЭБ.-М: Техносфера,2006.-192 c.
Цена: б.ц.

Мікроелектроніка
621.38

УДК 621.38

   Нашельский, А.Я. Технология спецматериалов электронной техники: учебник: ЭБ / А.Я. Нашельский.-М: Металлургия,1993.-368 c.
Цена: б/ц

Мікроелектроніка
621.38

УДК ОИ

   Центральный научно-исследовательский институт "Электроника". Сер. 6. Материалы. Вып. 1 (1419): Радиоволновые методы и аппаратура для контроля параметров магнитных пленок: (по данным отеч. и заруб. печати 1980- 1988 гг.): обзорная информация.-М: ЦНИИ "Электроника",1989.-38 c.
Цена: 34 к.

Мікроелектроніка
621.38:620.1+621.317.4

УДК 681.3-181.4 Б91

   Буреев Л.Н. и др. Простейшая микро-ЭВМ. Проектирование. Наладка. Использование..-М.: Энергоатомиздат,1989.-216 c.
Мікроелектроніка
681.3-181.4

Инв.N :
91595, 91596, 97025

УДК 621.38

   Эндерлайн Р. Микроэлектроника для всех.-М: Мир,1989.-190 c.
Цена: 1 р. 10 к.

Мікроелектроніка
621.38

УДК ОИ

   Центральный научно-исследовательский институт "Электроника". Сер. 6. Материалы. Вып. 2: Однородные и неоднородные пленки оксидных систем: обзорная информация.-М: ЦНИИ "Электроника",1989.-64 c.
Цена: 74 к.

Мікроелектроніка
621.38:620.1+621.372.8

УДК ОИ

   Центральный научно-исследовательский институт "Электроника". Сер. 6. Материалы. Вып. 3 (1441): Технология изготовления магнитных головок для высококоэрцитивных носителей : (по данным отеч. и заруб. лит. за 1982- 1988 гг.): обзорная информация.-М: ЦНИИ "Электроника",1989.-36 c.
Цена: 52 к.

Мікроелектроніка
621.38:620.1

УДК ОИ

   Центральный научно-исследовательский институт "Электроника". Сер. 6. Материалы. Вып. 4 (1457). Ч. 2: Физические процессы в прикатодной области тлеющего разряда и прогнозирование долгоечности катодных материалов для отпаянных приборов: обзорная информация.-М: ЦНИИ "Электроника",1989.-41 c.
Цена: 50 к.

Мікроелектроніка
621.38:620.1+621.3.032.2

УДК ОИ

   Центральный научно-исследовательский институт "Электроника". Сер. 6. Материалы. Вып. 5 (1469): Высокодобротные поликристаллические СВЧ феррогранаты (супергранаты): обзорная информация.-М: ЦНИИ "Электроника",1989.-65 c.
Цена: 60 к.

Мікроелектроніка
621.38:620.1

УДК ОИ

   Центральный научно-исследовательский институт "Электроника". Сер. 6. Материалы. Вып. 6 (1487): Плазмохимическое и ионнохимическое трвление полупроводниковых материалов типа А3 БV (по данным отеч. и заруб. печати за 1966- 1988 гг.): обзорная информация.-М: ЦНИИ "Электроника",1989.-48 c.
Цена: 60 к.

Мікроелектроніка
621.38:620.1

УДК ОИ

   Центральный научно-исследовательский институт "Электроника". Сер. 6. Материалы. Вып. 7 (1497): Анализ методов получения ферритовых порошков и сырьевых материалов для них, оценка перспективности из использования: обзорная информация.-М: ЦНИИ "Электроника",1989.-80 c.
Цена: 72 к.

Мікроелектроніка
621.38:620.1+621.318.1

УДК ОИ

   Центральный научно-исследовательский институт "Электроника". Сер. 6. Материалы. Вып. 8 (1499): Фоторезисторы высокого разрешения. Связь разрешающей способности с кинетическими факторами процессов фотопревращения и проявления: обзорная информация.-М: ЦНИИ "Электроника",1989.-26 c.
Цена: 34 к.

Мікроелектроніка
621.38:620.1+621.383

УДК ОИ

   Центральный научно-исследовательский институт "Электроника". Сер. 3. Микроэлектроника. Вып. 1 (1443): Конструктивно-технологические особенности техпроцесса групповой сборки многовыводных СБИС (АСЛН): ( по данным отеч. и заруб. печати 1974- 1988 гг.): обзорная информация.-М: ЦНИИ "Электроника",1989.-44 c.
Цена: 1 р.

Мікроелектроніка
621.38+621.382

УДК ОИ

   Центральный научно-исследовательский институт "Электроника". Сер. 3. Микроэлектроника. Вып. 2: Генерация аэрозолей оборудованием микроэлектроники и аспекты создания технологической среды требуемой чистоты: обзорная информация.-М: ЦНИИ "Электроника",1989.-53 c.
Цена: 1 р. 10 к.

Мікроелектроніка
621.38

УДК ОИ

   Центральный научно-исследовательский институт "Электроника". Сер. 3. Микроэлектроника. Вып. 3 (1470): Проблемы интеграции данных в САПР БИС ( по данным отеч. и заруб. печати за 1971- 1988 гг.): обзорная информация.-М: ЦНИИ "Электроника",1989.-80 c.
Цена: 1 р. 10 к.

Мікроелектроніка
621.38+681.3+002.6

УДК ОИ

   Центральный научно-исследовательский институт "Электроника". Сер. 3. Микроэлектроника. Вып. 4 (1472): Гетероэпитаксия арсенида галлия на кремний ( по данным заруб. печати за 1980- 1988 гг.): обзорная информация.-М: ЦНИИ "Электроника",1989.-36 c.
Цена: 45 к.

Мікроелектроніка
621.38+621.315.5